Verfahren zum Eichen eines Röntgensystems und zur Messung der äquivalenten Dicke eines Gegenstandes.,申请号DE19906023167-传众专利搜索

发明名称	Verfahren zum Eichen eines Röntgensystems und zur Messung der äquivalenten Dicke eines Gegenstandes.
摘要
申请公布号	DE69023167(D1)	申请公布日期	1995.11.30
申请号	DE19906023167	申请日期	1990.06.06
申请人	GENERAL ELECTRIC CGR S.A., ISSY-LES-MOULINEAUX, FR	发明人	HEIDSIECK, ROBERT, F-75116 PARIS, FR
分类号	A61B6/00;G01N23/08;(IPC1-7):A61B6/00;G01N23/04	主分类号	A61B6/00
代理机构		代理人
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