发明名称 用于半导体特性测定的夹具及其制造方法和使用方法
摘要 一种经济且交换作业效率高的半导体装置测试用夹具,由电路基板1、中间板2和电路基板3构成。其制造方法是制成电路基板1、中间板2和电路基板3,把多个与孔21内壁绝缘的弹性插销22固定在电路基板1的端子群13上,把中间板2固定在电路基板1上。其使用方法是准备好电路基板1和中间板2后,根据所测半导体装置的种类制作电路基板3,并在保持电路基板1与测试电路或电源连接的状态下交换电路基板3以测试两种以上的半导体装置。
申请公布号 CN1112683A 申请公布日期 1995.11.29
申请号 CN95100982.6 申请日期 1995.03.07
申请人 日立化成工业株式会社;山田电音株式会社 发明人 横家泰彦;山崎升;中村光夫;莲田秀一;生井荣作;山田修藏
分类号 G01R31/28;G01R15/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 王以平
主权项 1、半导体特性测试用夹具,其特征在于:由电路基板1、中间板2和电路基板3构成,其中,电路基板1由连接测试仪器或电源等的连接端子11、连接电路基板3的连接端子13以及把各端子群11和13进行电气接续的配线导体群12构成;电路基板3由位于与电路基板1的端子群13对应的位置且连接电路基板1的接续端子群31、至少连接安装在电路基板3上的半导体芯片或连接与半导体芯片进行连接的插座的连接端子群33以及把各端子群31和33进行电气连接的配线导体群32构成;中间板2具有绝缘板,该绝缘板在对应上述端子群13以及端子群31的位置上有多个其内壁被金属化了的孔21,在多个这样的孔21内部有与孔内壁相互绝缘且具有弹性的插销22。
地址 日本东京