| 发明名称 |
HOMOGENEITY-INSPECTION DEVICE ADOPTING SCHLIEREN METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH07311153(A) |
申请公布日期 |
1995.11.28 |
| 申请号 |
JP19940105824 |
申请日期 |
1994.05.20 |
| 申请人 |
NIKON CORP |
发明人 |
KAGAYA MASANAO;SAWADA HIDEJI;TANIHIRA YUMIKO |
| 分类号 |
G01N21/45;(IPC1-7):G01N21/45 |
主分类号 |
G01N21/45 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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