发明名称 TEST HEAD PART OF IN-CIRCUIT TESTER
摘要
申请公布号 JPH07311242(A) 申请公布日期 1995.11.28
申请号 JP19940102997 申请日期 1994.05.17
申请人 IBIDEN CO LTD 发明人 NAGAYA KUNIO;YAMADA KAZUHITO
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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