| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR STORAGE PROVIDED WITH TEST MODE CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH07296596(A) |
申请公布日期 |
1995.11.10 |
| 申请号 |
JP19940084622 |
申请日期 |
1994.04.22 |
| 申请人 |
MITSUBISHI ELECTRIC CORP |
发明人 |
SUZUKI TOMIO;HAYASHIGOE MASANORI |
| 分类号 |
G11C11/409;G11C11/401;G11C29/00;G11C29/04;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C11/409 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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