发明名称 SURFACE INSPECTION METHOD FOR WAFER AND INSPECTION DEVICE
摘要
申请公布号 JPH07294447(A) 申请公布日期 1995.11.10
申请号 JP19940090291 申请日期 1994.04.27
申请人 SONY CORP 发明人 YOSHIKOSHI SHUNICHI
分类号 G01B11/30;G01N21/88;G01N21/94;G01N21/956;H01L21/66;(IPC1-7):G01N21/88 主分类号 G01B11/30
代理机构 代理人
主权项
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