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发明名称 SEMICONDUCTOR MEMORY TEST SYSTEM
摘要
申请公布号 JPH07280893(A) 申请公布日期 1995.10.27
申请号 JP19940087415 申请日期 1994.04.04
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 SATOU SHINYA
分类号 G01R31/3183;G11C29/00;G11C29/10;(IPC1-7):G01R31/318 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
主权项
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