| 发明名称 |
METHOD FOR DETERMINING PARAMETERS OF MINORITY CHARGE CARRIERS IN SEMICONDUCTORS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
RU1660532(C) |
申请公布日期 |
1995.10.27 |
| 申请号 |
SU19894757051 |
申请日期 |
1989.11.09 |
| 申请人 |
EREVANSKIJ POLITEKHNICHESKIJ INSTITUT IM.K.MARKSA |
发明人 |
VARDANYAN R.R. |
| 分类号 |
H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
H01L21/66 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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