发明名称 |
METHOD FOR DETERMINING PARAMETERS OF MINORITY CARRIERS IN SEMICONDUCTORS |
摘要 |
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申请公布号 |
RU1634060(C) |
申请公布日期 |
1995.10.27 |
申请号 |
SU19894640848 |
申请日期 |
1989.01.24 |
申请人 |
EREVANSKIJ POLITEKHNICHESKIJ INSTITUT IM.K.MARKSA |
发明人 |
VARDANYAN R.R. |
分类号 |
H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
H01L21/66 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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