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发明名称 Übertragungsvorrichtung und Übertragungsverfahren für Kalibrierungsdaten eines Halbleiter-Testgeräts
摘要
申请公布号 DE19514814(A1) 申请公布日期 1995.10.26
申请号 DE19951014814 申请日期 1995.04.21
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 NEGISHI, TOSHIYUKI, OIZUMI, ASAHI, JP
分类号 G01R35/00;G01R31/28;G01R31/317;G01R31/319;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R35/00
代理机构 代理人
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