发明名称 |
FINE ADJUSTING DEVICE FOR SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE |
摘要 |
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申请公布号 |
JPH07272661(A) |
申请公布日期 |
1995.10.20 |
申请号 |
JP19940058510 |
申请日期 |
1994.03.29 |
申请人 |
HITACHI LTD;HITACHI SCI SYST:KK |
发明人 |
AKATSU MITSUO;OZASA SUSUMU |
分类号 |
H01J37/20;(IPC1-7):H01J37/20 |
主分类号 |
H01J37/20 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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