| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Messung von physikalischen Strukturparametern eines mehrkomponentigen und/oder mehrphasigen Mediums, wobei das Medium elektromagnetische Hohlraumresonatoren durchströmt, die Dielektrizitätskonstanten des Mediums in Fließrichtung und quer zur Fließrichtung aus longitudinalen und transversalen Eigenfrequenzen von Eigenschwingungen der Hohlraumresonatoren bestimmt werden und gleichzeitig Temperatur und Druck des Mediums gemessen werden, sowie eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens. Um die Messung von physikalischen Strukturparametern von Mehrphasen- und/oder Mehrkomponenten-Medien zu ermöglichen, schlägt das erfindungsgemäße Verfahren vor, daß die Eigenfrequenzen der Resonatoren in mindestens drei unterschiedlichen Raumrichtungen gemessen werden. Durch die erfindungsgemäße Messung von Dielektrizitätskonstanten des Mediums in unterschiedlichen Raumrichtungen ist die Zusammensetzung und physikalische Beschaffenheit beliebig vieler in dem Medium enthaltener Phasen und Komponenten möglich. Zur Erhöhung der Meßgenauigkeit schlägt die Erfindung weiterhin vor, daß bei jeder Eigenfrequenzmessung gleichzeitig die Resonanzfrequenz und der Q-Faktor bei der Resonanzfrequenz gemessen werden. Dadurch werden Korrekturgrößen ermittelt, die zu den aus den Resonanzfrequenzen ermittelten Dielektrizitätskonstanten addiert werden und dadurch die Meßgenauigkeit annähernd um eine Größenordnung erhöhen.</p> |
