发明名称 | 微区X射线荧光黄金首饰分析装置 | ||
摘要 | 一种微区X射线荧光黄金首饰分析装置,包括检测样品荧光成分依次成电路联结的探测器(7)、前置放大器(8)、主放大器(9)、脉冲模数变换器(10)和微机(13)、和依次以光路联结的初射X射线发生器(1)、光阑孔(3)和45°反射镜(4),以及观察样品(6)的显微装置(5)、置放样品(6)的显微装置(11)。本发明由于采用微束X射线去激发黄金首饰散射特征元素荧光,从而达到快速、简便对黄金首饰进行精确可靠、非破坏性的测量目的。 | ||
申请公布号 | CN1110405A | 申请公布日期 | 1995.10.18 |
申请号 | CN94112117.8 | 申请日期 | 1994.04.12 |
申请人 | 中国科学院上海原子核研究所 | 发明人 | 朱节清;乐安全;谷英梅;陆荣荣;吴国栋 |
分类号 | G01N23/223 | 主分类号 | G01N23/223 |
代理机构 | 中国科学院上海专利事务所 | 代理人 | 谢晋光;沈能一 |
主权项 | 1、一种微区X射线荧光黄金首饰分析装置,包括被检测样品(6)、测量被激发元素的荧光的探测器(7)、后接该探测器(7)并依次成电路联结的前置放大器(8)、主放大器(9)、脉冲模数变换器(10)和微机(13)、以及置放样品(6)的三维可调平台(11),其特征在于还有初级X射线发生器(1)、位于紧靠该发生器(1)的出口处的光阑孔(3)、处于光阑孔(3)与样品(6)之间并成光路联结的45°反射镜(4)、经由该反射镜(4)观察样品(6)的显微装置(5)。 | ||
地址 | 201800上海市加定区加罗公路2019号 |