发明名称 IC TEST EQUIPMENT
摘要
申请公布号 JPH07262127(A) 申请公布日期 1995.10.13
申请号 JP19940073891 申请日期 1994.03.18
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 KAWASAKI KUNIHIKO
分类号 G01R31/28;G06F13/28;(IPC1-7):G06F13/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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