发明名称 FAIL ANALYZER FOR SEMICONDUCTOR TESTER
摘要
申请公布号 JPH07260890(A) 申请公布日期 1995.10.13
申请号 JP19940079525 申请日期 1994.03.25
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 TAKAHASHI KOJI
分类号 G01R31/28;G01R31/00;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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