| 发明名称 |
DEVICE TEMPERATURE CYCLE TESTER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH07263509(A) |
申请公布日期 |
1995.10.13 |
| 申请号 |
JP19940077806 |
申请日期 |
1994.03.25 |
| 申请人 |
CHODENDO SENSOR KENKYUSHO:KK |
发明人 |
TANAKA SABURO;ITOZAKI HIDEO |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/00;G01R31/30;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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