发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR
摘要
申请公布号 JPH07262957(A) 申请公布日期 1995.10.13
申请号 JP19940056512 申请日期 1994.03.28
申请人 HORON:KK 发明人 ANAZAWA NORIMICHI
分类号 H01J37/22;(IPC1-7):H01J37/22 主分类号 H01J37/22
代理机构 代理人
主权项
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