发明名称 |
Method of fabrication of a single electron device. |
摘要 |
Zur Herstellung eines Einzelelektroden-Bauelementes in MOS-Technik wird in einem Siliziumsubstrat (14) ein aktives Gebiet definiert, das mit einem Gatedielektrikum (16) versehen wird. Mit Hilfe eines Feinstrukturierungsverfahrens, insbesondere mit Elektronenstrahl-Lithographie, wird eine erste Gateebene (12) mit feinen Strukturen < 100 nm erzeugt, deren Oberfläche und Flanken mit einer isolierenden Schicht (17, 17a) bedeckt werden. Es wird eine zweite Gateebene (13) erzeugt, die die feinen Strukturen der ersten Gateebene (12) mindestens im Bereich des aktiven Gebietes überdeckt. <IMAGE>
|
申请公布号 |
EP0675546(A2) |
申请公布日期 |
1995.10.04 |
申请号 |
EP19950102892 |
申请日期 |
1995.03.01 |
申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
ROESNER, WOLFGANG, DR.;VOGELSANG, THOMAS, DR. |
分类号 |
H01L21/822;H01L21/335;H01L27/04;H01L27/10;H01L29/66;H01L29/76;H01L29/78;H01L49/00;(IPC1-7):H01L29/78;H01L29/423 |
主分类号 |
H01L21/822 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|