发明名称 Verfahren und Anordnung zum Abtasten für ein opto-elektronisches, hochauflösendes Weitwinkel-Abbildungsgerät.
摘要
申请公布号 DE69204222(D1) 申请公布日期 1995.09.28
申请号 DE19926004222 申请日期 1992.06.04
申请人 AEROSPATIALE SOCIETE NATIONALE INDUSTRIELLE, PARIS, FR 发明人 JEANDEAU, SERGE, F-91700 STE GENEVIEVE-DES-BOIS, FR
分类号 G01J1/04;G01J5/48;G02B26/10;G02B27/00;H04N1/113;H04N3/09;(IPC1-7):G02B26/10 主分类号 G01J1/04
代理机构 代理人
主权项
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