发明名称 | 检测熔化的树脂中所含杂质的方法 | ||
摘要 | 一种检测熔化树脂中杂质的方法。熔化树脂经过一个带有透光窗口的通道,光从光源中射出并通过窗口,而熔化树脂流过该通道。用传感器检测光被熔化树脂中所含杂质中断时产生的阴影。最后,由阴影宽度和光强度测定杂质大小。如果由检测通过熔化树脂的光所得到的光信号表明在暗区周围存在亮区,则可作出判断。暗区即是杂质的阴影。此外,为了以高精度判断杂质的形状并记录下其图像,可采用将用于上述方法中的装置与传统摄像机结合的方式。 | ||
申请公布号 | CN1109168A | 申请公布日期 | 1995.09.27 |
申请号 | CN93121406.8 | 申请日期 | 1993.11.24 |
申请人 | 住友电气工业株式会社 | 发明人 | 安尾浩行;出口洋成 |
分类号 | G01N21/84 | 主分类号 | G01N21/84 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 张志醒;肖掬昌 |
主权项 | 1、一种检测熔化的树脂中的杂质的方法,包括下列步骤:让熔化的树脂通过一个带有可透光的窗口的通道,从光源中发出的光通过所述窗口,并采用传感器对流径所述通道的熔化的树脂进行检测,当从光源发出的光被熔化的树脂中所含杂质中断时,就会产生阴影,并由阴影的宽度以及阴影的光强度测定杂质的大小。 | ||
地址 | 日本大阪府 |