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经营范围
发明名称
SEMICONDUCTOR TESTER
摘要
申请公布号
JPH07249669(A)
申请公布日期
1995.09.26
申请号
JP19940042539
申请日期
1994.03.14
申请人
MATSUSHITA ELECTRON CORP
发明人
ONOUE MINAKO
分类号
H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66
主分类号
H01L21/66
代理机构
代理人
主权项
地址
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