发明名称 |
扫描探针显微镜立式探头 |
摘要 |
本实用新型是一种扫描探针显微镜SPM的立式探头,它使用一只旋柄4,通过滑动机构5同时调节支撑探头上部I的两个支点运动;再用旋柄6带动螺纹副7调节另一支点,同时配以压电器件3的电反馈伸缩,完成SPM测试调节任务,克服了原有调节装置,在对样品测试调节时的复杂和费时,达到了方便省时调节的目的。 |
申请公布号 |
CN2208271Y |
申请公布日期 |
1995.09.20 |
申请号 |
CN94217067.9 |
申请日期 |
1994.07.21 |
申请人 |
中国科学院化学研究所 |
发明人 |
白春礼;戴长春;黄桂珍;陈增波;王培森;商广义 |
分类号 |
H01J37/02;H01J37/20;G02B21/00 |
主分类号 |
H01J37/02 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
1、一种扫描探针显微镜立式探头,其部件有装有探针(1)的探头上部Ⅰ,装有样品(2)和压电器件(3)的探头下部Ⅱ,以及固定在探头下部Ⅱ上的调节机构,其特征在于所述的调节机构中,探头旋柄(4)与连接的螺纹副上装有一个滑动机构(5),旋柄(6)连接螺纹副机构(7),探针(1)的下方为压电器件(3)。 |
地址 |
100080北京市海淀区中关村北1街2号 |