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发明名称 APPEARANCE TEST STAGE FOR IC
摘要
申请公布号 JPH07243827(A) 申请公布日期 1995.09.19
申请号 JP19940060077 申请日期 1994.03.04
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 GOTO TOSHIO
分类号 G01B11/24;G01N21/84;G01R31/28;G12B9/08;G12B17/02;(IPC1-7):G01B11/24 主分类号 G01B11/24
代理机构 代理人
主权项
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