| 发明名称 |
ELECTROSTATIC CAPACITY MEASURING CIRCUIT AND LEAD TESTER FOR ELECTRONIC PARTS UTILIZING IT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH07229941(A) |
申请公布日期 |
1995.08.29 |
| 申请号 |
JP19940044918 |
申请日期 |
1994.02.17 |
| 申请人 |
SUNX LTD |
发明人 |
NAMIENO MAKOTO;MINATO WATARU |
| 分类号 |
G01R27/26;(IPC1-7):G01R27/26 |
主分类号 |
G01R27/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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