| 发明名称 |
METHOD AND CIRCUIT FOR TESTING DEFECT OF CMOS OR BICMOS INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH07218578(A) |
申请公布日期 |
1995.08.18 |
| 申请号 |
JP19950028652 |
申请日期 |
1995.01.24 |
| 申请人 |
SGS THOMSON MICROELETTRONICA SPA |
发明人 |
RUIJI PENTSUA;MIKERE FUABUARI;BURUUNO RITSUKO |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/28;G01R31/30;G01R31/317;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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