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发明名称
OSCILLATION DETECTING CIRCUIT FOR IC TESTER
摘要
申请公布号
JPH07218598(A)
申请公布日期
1995.08.18
申请号
JP19940031906
申请日期
1994.02.03
申请人
ADVANTEST CORP
发明人
SUDO KAZUHIKO
分类号
G01R31/26;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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