发明名称 测试区域网路电缆用仪器及方法
摘要 一用以除错与验证铜线区域网路(LAN)电缆系统之仪器及方法使用一对交换矩阵及一用以评估储存于一个二维矩阵中之测量值之软体方法以提供所有可能电线对间之一连串电阻及电容测量。储存之测量值系对预定标准直做评估同时比较矩较形式之决定样式与一已知之好的LAN 电缆系统样式。若不匹配则产生错误讯息并经由一使用者介面传达给操作员。使用一数学计算电容差技术评估近端串音(NEXT)隔离。若电容差值大于一有关一可接受之NEXT隔离准值之标准值则产生错误讯息。
申请公布号 TW253030 申请公布日期 1995.08.01
申请号 TW083112223 申请日期 1994.12.27
申请人 富鲁克股份有限公司 发明人 特萨夫里.雪佛;马克E.辛德斯;汤玛斯P.洛克;罗伯特J.雷汪道斯基
分类号 G01R27/16 主分类号 G01R27/16
代理机构 代理人 康伟言 台北巿南京东路三段二四八号七楼
主权项 1.一种LAN电缆测试仪器,包含:(a)输入装置,连接至一测试中之外部LAN电缆之数条电线;(b)连接至该输入装置之第一交换装置,其中该第一交换装置可选择地连接该等数条电线之一第一电线至一输出;(c)连接至该输入装置之第二交换装置,其中该第二交换装置可选择地连接该等数条电线之一第二电线至一输出;(d)测量装置,其一第一输入连接至该第一交换装置之该输出以及一第二输入连接至该第二交换装置之该输出,其中该测量装置将存在该第一与第二输入间之电气参数转变为测量値;(e)用以储存一包含系统控制指令之程式以及储存指示器値与该等测量値之记忆体装置;以及(f)一微处理器,连接至该第一及第二交换装置用以控制该第一及第二电线从该输入装置连接至该测量装置之选择,该微处理器亦连接至该测量装置用以收集来自该测量装置之该等测量値,以及该微处理器更连接至该记忆体装置用以储存该等测量値及该等指示器値至该记忆体装置,其中该微处理器比较该等测量値与多个标准値产生该等指示器値以及回应该等指示器値产生一输出。2.依据申请专利范围第1项所述之LAN电缆测试仪器,其中该测量单元所测量之电气参数包含电容。3.依据申请专利范围第1项所述之LAN电缆测试仪器,其中该测量单元所测量之电气参数包含电阻。4.依据申请专利范围第1项所述之LAN电缆测试仪器,更包含数个周边装置连接至该微处理器并为该微处理器依该等系统控制指令控制。5.依据申请专利范围第4项所述之LAN电缆测试仪器,其中该等数个周边装置包含:(a)一连接之使用者介面,提供该微处理器使用者控制资讯;以及(b)一连接之显示器,接收来自该微处理器之该输出。6.依据申请专利范围第5项所述之LAN电缆测试仪器,其中该使用者介面是一小键盘及一旋转开关以及该显示器是一液晶显示(LCD)。7.一种在一LAN电缆测试仪器中用以测试一含有多条电线之LAN电缆的方法,包含以下步骤:(a)测量该数条电线所有可能组合之电线对中每一电线对间之一电气参数以对每一该等电线对产生一测量値;(b)将该等测量値与多个标准値中每一値比较以侦测该LAN电缆之特定状况;(c)产生一指示器値,指示每一比较结果之一特定状况;(d)比较每一该等指示器値与指示该等特定状况之该等对应之预定指示器値;以及(e)依每一比较产生测试状态讯号。8.依据申请专利范围第7项所述之测试LAN电缆方法,其中该测量装置所测量之该电气参数包含电容,用以产生一电容测量。9.依据申请专利范围第8项所述之测试LAN电缆方法,更包含以下步骤:(a)计算一预定电线对组之每一电线与该等数条电线中任一其它电线之电容测量値间之一差异;(b)比较该差値与一标准値,其中该檟准値系有关该电线对与该其它电线间之一近端串音(NEXT)隔离所需之准値;以及(c)对应每一比较产生状况讯号。10.依据申请专利范围第7项所述之测试LAN电缆方法,其中该测量装置所测量之该电气参数包含电阻,用以产生一电阻测量。11.依据申请专利范围第7项所述之测试LAN电缆方法,其中该等多个标准値包含一用以侦测开路之标准値,它是以一预定値乘上该等测量値之最大値计算而得。12.依据申请专利范围第7项所述之测试LAN电缆方法,其中该等多个标准値包含一用以侦测双绞线对之标准値,它是以一预定値乘上该等测量値之最大値计算而得。13.依据申请专利范围第7项所述之测试LAN电缆方法,其中该等多个标准値包含一用以侦测短路之标准値,该标准値系一预定常数。14.依据申请专利范围第7项所述之测试LAN电缆方法,其中该等多个标准値包含一组用以侦测到一连接至该LAN电缆之已知电缆识别器之标准値,该组标准値系根据该电缆识别器所提供之预期电阻値而定之一预定常数组。第1A及1B分别显示一实际铜线LAN电缆及LAN电缆LAN连接器;第2图系一包含一铜线LAN电缆及在其二端之LAN电缆连接器之LAN电缆系统的电路图,显示预期之电线配对情形;第3图系一LAN电缆电路图,显示一分叉对配线错误及一交叉对配线错误;第4图系一LAN电缆电路图,显示一开路配线错误,一短路配线错误,一极性颠倒配线错误,及一未接保护配线错误;第5图系一方块图,显示使用一测量所有可能电线对之电阻及电容方法之一LAN电缆测试仪器;第6A,6B及6C图构成一流程图,显示本发明微处理器所执行之程式;第7图显示储存电阻资料之矩阵资料结构格式;第8图显示电阻测量资料被处理为以一符号格式储存之有关决定之资讯;第9图显示储存电容资料之矩阵资料结构格式;第10图显示电容测量资料被处理成以一符号格式储存之有关决定之资讯;第11图显示电容差异矩阵是如何计算之矩阵格式;第12图系一8线LAN电缆之实际侧视图,显示在电容差异矩阵中所计算之电线间之实际电容元
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