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发明名称 TEST MODE SIGNAL GENERATION CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH07198803(A) 申请公布日期 1995.08.01
申请号 JP19930352437 申请日期 1993.12.29
申请人 NEC CORP 发明人 SEKI KAZUMI;ITO KENICHI
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;G11C11/401;G11C29/00;G11C29/14;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/318 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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