| 发明名称 |
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH07190947(A) |
申请公布日期 |
1995.07.28 |
| 申请号 |
JP19930330664 |
申请日期 |
1993.12.27 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD |
发明人 |
MATSUURA TOSHIO;OBA HIDETOSHI |
| 分类号 |
G01N21/88;G01N21/93;G01N21/956;H01L21/66;H05K3/00;(IPC1-7):G01N21/88 |
主分类号 |
G01N21/88 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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