| 摘要 |
<P>Dans le procédé (62) de compensation de déformations d'un substrat exécute une comparaison de signaux des bases de données (64, 66), on regroupe (68) des signaux de données de base de dimensions préférées à une pluralité d'ensembles de signaux correspondants de régions du substrat, recevoir des pixels d'une base de données (64) obtenue par balayage du substrat, et regrouper les signaux de base de données explorés, comparer (70) des ensembles de signaux correspondant à une région, produire (72) des signaux indicatifs d'un écart entre une position explorée et une position préférée d'un pixel et produire (74) des signaux servant pour supprimer l'écart. <BR/> Application notamment à la fabrication de panneaux de circuits imprimés.</P> |
