| 发明名称 |
Defect standard for a rotating internal inspection probe. |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0463509(B1) |
申请公布日期 |
1995.07.19 |
| 申请号 |
EP19910109779 |
申请日期 |
1991.06.14 |
| 申请人 |
INSTITUT DR. FRIEDRICH FOERSTER PRUEFGERAETEBAU GMBH & CO. KG |
发明人 |
ENDRESS, HERIBERT |
| 分类号 |
G01B3/30;G01N27/90;(IPC1-7):G01N27/90;G01B7/28 |
主分类号 |
G01B3/30 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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