发明名称 |
APPARATUS FOR MEASURING FLATNESS OF METALLIC THIN PLATE |
摘要 |
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申请公布号 |
JPH07174543(A) |
申请公布日期 |
1995.07.14 |
申请号 |
JP19930353042 |
申请日期 |
1993.12.20 |
申请人 |
NIPPON FILCON CO LTD |
发明人 |
OSAWA HISAO;TAKAHASHI HIDEO |
分类号 |
G01B11/30;(IPC1-7):G01B11/30 |
主分类号 |
G01B11/30 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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