发明名称 Verfahren zur Schichtdickenmessung an Leitern und Halbleitern
摘要
申请公布号 DD274662(B5) 申请公布日期 1995.07.13
申请号 DD19880318718 申请日期 1988.08.05
申请人 HERRMANN, DIETHARD, DOZ, DR.SC.NAT;FUKAREK, WOLFGANG, DIPL.-PHYS.DR 发明人 HERRMANN, DIETHARD, DOZ, DR.SC.NAT;FUKAREK, WOLFGANG, DIPL.-PHYS.DR
分类号 G01B7/06;G01B21/08;(IPC1-7):G01B7/06 主分类号 G01B7/06
代理机构 代理人
主权项
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