Verfahren zur Bestimmung der Monitorempfindlichkeit einer Strahlung emittierenden Anordnung sowie Verfahren und System zur Kontrolle derselben und optische Aufzeichnungs- und/oder Wiedergabevorrichtung mit einem derartigen System.
摘要
申请公布号
DE69015382(T2)
申请公布日期
1995.07.13
申请号
DE19906015382T
申请日期
1990.02.21
申请人
PHILIPS ELECTRONICS N.V., EINDHOVEN, NL
发明人
MCGEE, PHILIP JOSEPH L., C/O INT. OCTROOIBUREAU BV, PROF. HOLSTLAAN 6, NL-5656 AA EINDHOVEN, NL
