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发明名称 SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE HAVING TEST MODE
摘要
申请公布号 KR950007454(B1) 申请公布日期 1995.07.11
申请号 KR19910014119 申请日期 1991.08.16
申请人 MITSUBISHI ELECTRICS CORP. 发明人 SHUHOU, MAHIDO;MIYAMODO, HIROSHI
分类号 G11C29/00;G11C11/401;G11C29/14;G11C29/46;H01L21/8242;H01L27/10;H01L27/108;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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