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发明名称 TEMPERATURE-CHARACTERISTIC TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC PART
摘要
申请公布号 JPH07167905(A) 申请公布日期 1995.07.04
申请号 JP19940200100 申请日期 1994.08.02
申请人 FURANTSU ERU ZAUAARANDO 发明人 FURANTSU ERU ZAUAARANDO
分类号 G01R27/00;G01H13/00;G01H15/00;G01R31/00;G01R31/28;H03H3/013;(IPC1-7):G01R31/00 主分类号 G01R27/00
代理机构 代理人
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