发明名称 位置测定方法及其装置
摘要 自相距一既定间隔配置之多数传送器间歇地且几乎同时地送出频率相互不同之超音波,这些超音波为装设于被测定物体上之1个接收器所接收,然后将此接收之信号通过具有中心频率相互不同之多数之狭通频特性之通频滤波器俾对各传送器送出之超音波个别检出传送器别之接收信号,并根据从各传送器所送出之超音波之传送开始时刻直到对尘之传送器别之接收信号被检出之时刻止之经过时间以求出自各传送器到接收器止之距离,接着根据这些距离以求出被测物体之位置。
申请公布号 TW250542 申请公布日期 1995.07.01
申请号 TW083112215 申请日期 1994.12.27
申请人 杰比西供应股份有限公司 发明人 藤谷伸一
分类号 G01S15/00 主分类号 G01S15/00
代理机构 代理人 何金涂 台北巿大安区敦化南路二段七十七号八楼
主权项 1.一种位置之测定方法,其特征为自隔一既定间隔配置之多数之传送器间歇地且几乎同时地送出频率相互不同之超音波,这些超音波被装设于被测定物体上之1只接收器所接收,接着将接收器所接收之信号通过具有中心频率相互不同之多数狭通频特性之通频滤波器以对各传送器送出之超音波个别检出接收器别之接收信号,然后根据各传送器开始传送超音波之时刻直到检出对应之传送器别之接收信号之时刻止之经过时间以求出各传送器到接收器间之距离,再根据这些距离求出被测定物体之位置。2.如申请专利范围第1项之位置测定方法,其中测定以影像显示装置之显示幕为基准之座标系上之被测定物体之位置。3.如申请专利范围第1项之位置测定方法,其中藉定藉位置情报可调整角度之摄影装置之周围之既定空间内之被测定物体之三维位置。4.一种位置测定装置,其特征为具备有隔一既定间隔配置之多数传送器,装设于被测定物体上之1只接收器,自各传送器间歇地且几乎同时地传送频率相互不同之超音波之传送装置,使各接收器所接收之信号通过具有中心频率相互不同之多数狭通频特性之通频滤波器以对传送器送出之超音波个别检出传送器别之接收信号之接收装置,及根据自各传送器开始传送超音波之时刻直到检出对应之传送器别之接收信号之时刻止之经过时间以求出自各传送器到接收器之距离及被测定物体之位置之处理装置。5.如申请专利范围第4项之位置测定装置,其中通频滤波器具备有与对应之超音波相同频率之两个压电式超音波转换器,这两个超音波转换器之共振器系相互隔一超音波之1个波长程度之距离成对向配置,输入信号系加于一边之转换器之电极,而输出信号则自另一边之转换器之电极取出。6.如申请专利范围第5项之位置测定装置,其中被测定物体具备有其上设置有操作开关措施而可手持操作之操作部,底端部固定于操作部上之能伸缩之伸缩部,及固定于伸缩部之末端部上之检出部,接收器系装设于检出部上。图1系表示本发明之1个实施例之简介装置之概略斜视图。图2系表示图1之简介装置之构成之方块图。图3系表示指示构件之1例之侧面图。图4系表示第2接收回路之构成之1例之方块图。图5系表示通频滤波器之1例之纵断面图。图6系表示通频滤波器之截断特性之曲线。图7系表示未装设AOC措施时通频滤波器所需之截断特性之曲线。图8系表示传送信号之1例之时序表。图9系表示使传送信号之频率未偏离之情形和偏离之情形之传送器别之接收信号之时序表。图10系表示使传送信号之频率未偏离之情形和偏离之情形之传送器别之接收信号之半波整流波之平滑包络之时序表。图11系表示传送器别之接收信号之半波整流波之阶段状包络之时序表。图12系表示增大阶段状包络及步级间之段差之阶段状包络之时序表。图13系表示增大步级间段差之阶段状包络与临界値之关系之时序表。图14系表示接收信号之接收准位不同时之平滑包络与临界値之关系之时序表。图15系表示接收信号之平滑包络与临界値之变动之关系之时序表。图16系表示指示图形变形之际之指示构件之操作方法之说明图。图17系表示指示构件之操作与图形变形之关系之说明图。图18系表示本发明之另外实施例之图2相当之方块图。图19系表示本发明之再另外实施例之图2相当之方块图。图20系表示本发明之再另外实施例之图2相当之方块图。图21系表示本发明之再另外实施例之图2相当之方块图。图22系表示指示构件之另外1例之伸缩部处于伸长状态之侧面图。图23系为图22
地址 日本