发明名称 | 热壁密装低温低压淀积二氧化硅薄膜技术 | ||
摘要 | 一种低温低压热壁密装淀积二氧化硅薄膜的技术。现有技术淀积的二氧化硅薄膜台阶覆盖性较差,填充深孔能力不佳,炉产量较低。本发明用臭氧和正硅酸酯为原料,反应温度150~550℃,气体压力10—10<SUP>3</SUP>帕,反应管内可装待淀积硅片5~150片,反应管置于加热炉内,形成热壁。用本发明制得的二氧化硅薄膜性能良好,生产效率高。 | ||
申请公布号 | CN1104264A | 申请公布日期 | 1995.06.28 |
申请号 | CN94112298.0 | 申请日期 | 1994.09.02 |
申请人 | 复旦大学 | 发明人 | 王季陶;解胜启 |
分类号 | C23C16/40;H01L21/31 | 主分类号 | C23C16/40 |
代理机构 | 复旦大学专利事务所 | 代理人 | 姚静芳 |
主权项 | 1、一种用正硅酸酯和臭氧作用制备二氧化硅薄膜的技术,其特征在于将要淀积薄膜的硅片每两片淀积面向外迭合或单片间隙3~30mm层层平行排列在反应管内,硅片平面垂直于反应体系内气流方向且与反应管主轴垂直,将正硅酸酯蒸汽和臭氧引入反应体系内,反应管置入加热炉,反应温度150~550℃,气体压力10~103帕。 | ||
地址 | 200433上海市邯郸路220号 |