发明名称 热壁密装低温低压淀积二氧化硅薄膜技术
摘要 一种低温低压热壁密装淀积二氧化硅薄膜的技术。现有技术淀积的二氧化硅薄膜台阶覆盖性较差,填充深孔能力不佳,炉产量较低。本发明用臭氧和正硅酸酯为原料,反应温度150~550℃,气体压力10—10<SUP>3</SUP>帕,反应管内可装待淀积硅片5~150片,反应管置于加热炉内,形成热壁。用本发明制得的二氧化硅薄膜性能良好,生产效率高。
申请公布号 CN1104264A 申请公布日期 1995.06.28
申请号 CN94112298.0 申请日期 1994.09.02
申请人 复旦大学 发明人 王季陶;解胜启
分类号 C23C16/40;H01L21/31 主分类号 C23C16/40
代理机构 复旦大学专利事务所 代理人 姚静芳
主权项 1、一种用正硅酸酯和臭氧作用制备二氧化硅薄膜的技术,其特征在于将要淀积薄膜的硅片每两片淀积面向外迭合或单片间隙3~30mm层层平行排列在反应管内,硅片平面垂直于反应体系内气流方向且与反应管主轴垂直,将正硅酸酯蒸汽和臭氧引入反应体系内,反应管置入加热炉,反应温度150~550℃,气体压力10~103帕。
地址 200433上海市邯郸路220号