| 发明名称 |
MANUFACTURE OF STUCK SEMICONDUCTOR SUBSTRATE AND DEVICE FOR INSPECTING STUCK DEFECT OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH07161596(A) |
申请公布日期 |
1995.06.23 |
| 申请号 |
JP19930341331 |
申请日期 |
1993.12.10 |
| 申请人 |
MITSUBISHI MATERIALS CORP;MITSUBISHI MATERIALS SHILICON CORP |
发明人 |
WATANABE MINEO;HARADA HITOSHI;SUGAWARA MAKOTO |
| 分类号 |
H01L21/66;H01L21/02;(IPC1-7):H01L21/02 |
主分类号 |
H01L21/66 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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