| 发明名称 |
JUDGING METHOD FOR FUNDAMENTAL UNDETECTED FAILURE OF LOGIC CIRCUIT, AND TEST PATTERN PRODUCTION METHOD |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH07159499(A) |
申请公布日期 |
1995.06.23 |
| 申请号 |
JP19930302799 |
申请日期 |
1993.12.02 |
| 申请人 |
HITACHI LTD |
发明人 |
TANDAI MIYAKO;NAKADA TAKAHIRO;NIIYA TAKAO;NISHIDA TAKAO;MATSUSHIMA JUN |
| 分类号 |
G01R31/317;G01R31/3183;(IPC1-7):G01R31/317;G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/317 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
