| 发明名称 |
SCAN FLIP FLOP DETERMINING METHOD AND SEQUENTIAL CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH07160753(A) |
申请公布日期 |
1995.06.23 |
| 申请号 |
JP19940163513 |
申请日期 |
1994.07.15 |
| 申请人 |
NEC CORP |
发明人 |
ARANKUMAA BARARISHIYAN;SURIMATSUTO TEII CHIYARADAHAA |
| 分类号 |
G06F17/50;G01R31/317;G01R31/3185;(IPC1-7):G06F17/50 |
主分类号 |
G06F17/50 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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