| 发明名称 |
PROPERTY MEASURING SYSTEM |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH07151837(A) |
申请公布日期 |
1995.06.16 |
| 申请号 |
JP19940156387 |
申请日期 |
1994.06.16 |
| 申请人 |
TEKTRONIX INC |
发明人 |
MIHAIRU KEE RABERU;MAIKERU DEII JIYOONZU;SUTEIIBUN EICHI PETSUPAA |
| 分类号 |
G01R31/302;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/302 |
主分类号 |
G01R31/302 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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