发明名称 Method and apparatus for testing a VLSI device.
摘要
申请公布号 EP0481097(B1) 申请公布日期 1995.06.14
申请号 EP19900117819 申请日期 1990.09.15
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 DIEBOLD, ULRICH, DIPL.-ING.;RIEGLER, JOACHIM, DIPL.-ING.;ROST, PETER, DIPL.-ING.;SCHMIDT, MANFRED, DIPL.-PHYS.;TORREITER, OTTO, DIPL.-ING.;VERWEGEN, PETER, DIPL.-ING.;WEILAND, DAWN;WENDEL, DIETER, DIPL.-ING.
分类号 G01R31/317;G06F11/27;(IPC1-7):G06F11/26 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人
主权项
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