发明名称 摆动式测量粉粒状物位的仪表
摘要 本发明涉及一种测量仪表,特别是利用叶片回转摆动来控制粉粒状物位高度的一种测量仪表。轴的一端固定在轴芯上,轴芯穿过前后叉座与左、右叉臂固定为一体,滑轮安装在电机轴上的偏心轮上,滑轮置于左、右叉臂两臂之间的拨叉滑道中。使叶片轴无回转往复动作,仅作微量摆动使之易于密封,同时达到操纵灵活结构布置合理的目的。
申请公布号 CN1028904C 申请公布日期 1995.06.14
申请号 CN93111021.1 申请日期 1993.04.03
申请人 杜国凯;万荣辉 发明人 杜国凯;万荣辉
分类号 G01F23/22 主分类号 G01F23/22
代理机构 辽宁专利事务所 代理人 张志刚
主权项 1、摆动式测量粉粒状物位的仪表,包括有叶片1、叶片座2、轴3、前后叉座12、14及左、右叉臂13、28及微动开关17、电机24,其特征在于轴芯11穿过前后叉座12、14与左、右叉臂13、28固定为一体,右叉臂28上装有开关架18,其上固装有微动开关17,左叉臂13上固定有压板15,机壳内的电机板25固定在轴套26及机座9上,电机24固定其上,滑轮22安装在电机24轴上的偏心轮23上,滑轮22置于左、右叉臂13、28两臂之间的拨叉滑道中。
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