发明名称 Measuring device to test the connection between at least two subassemblies.
摘要 <p>Die Erfindung bezieht sich auf eine Meßvorrichtung wenigstens zum Testen der Verbindungen zwischen wenigstens zwei Baugruppen (3, 4, 5) mit einer Testanordnung (1) zur Erzeugung eines an einen Testanordnungsausgang gelieferten Testsignals und zur Auswertung eines von einer Baugruppe (3, 4, 5) gelieferten, aus dem Testsignal gebildeten und an einem Testanordnungseingang empfangenen Analysesignals. Die Testanordnung (1) ist auch zur Zuführung eines Schaltsteuersignals zu auf einer Baugruppe (3, 4, 5) enthaltenen Steueranordnung (10, 11, 12) vorgesehen. Eine Baugruppe (3, 4, 5) enthält eine von der zugeordneten Steueranordnung (10, 11, 12) gesteuerte Schaltvorrichtung (7, 8, 9), die zur Weiterleitung eines Testsignals oder eines aus dem Testsignal gebildeten Zwischensignals an einen Baugruppen-Testeingang und zum Empfang wenigstens eines weiteren Zwischensignals von einem Baugruppen-Testausgang vorgesehen ist. Eine Schaltvorrichtung (7, 8, 9) ist in einem ersten Schaltzustand zur Kopplung des Baugruppen-Testeingangs mit dem Testanordnungsausgang und des Baugruppen-Testausgangs mit einer Hilfsverbindung (BR) und in einem zweiten Schaltzustand zur Kopplung des Baugruppen-Testeingangs mit einer Hilfsverbindung (BR) und des Baugruppen-Testausgangs mit dem Testanordnungseingang oder mit einer weiteren Hilfsverbindung (BR) vorgesehen.</p>
申请公布号 EP0656590(A2) 申请公布日期 1995.06.07
申请号 EP19940203457 申请日期 1994.11.29
申请人 PHILIPS CORPORATE INTELLECTUAL PROPERTY GMBH;KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. 发明人 MEYER, GERHARD DIPL.-ING.
分类号 H04B3/46;G01R31/04;G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/22;(IPC1-7):G06F11/26 主分类号 H04B3/46
代理机构 代理人
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