Procédé et circuit de test de circuits intégrés.

摘要

Un circuit de mise en forme de salve pour un équipement de test automatique comprend un multiplexeur de valeurs de comptage (32), un multiplexeur d'horloge (30), un registre "avance/retard" (34) pour accoupler sélectivement les deux multiplexeurs, un bloc d'adaptation (36) pour transmettre sélectivement le signal de sortie du multiplexeur de valeurs de comptage, un vernier (38) destiné à recevoir le signal de sortie du bloc d'adaptation (36) et un modulateur d'impulsions (44) destiné à transmettre sélectivement le signal de sortie du vernier (38).