| 发明名称 |
Verfahren zur Pruefung einzelner Bauelemente oder Schaltungsteile von einer oder mehreren integrierten Schaltung |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE1514871(A1) |
申请公布日期 |
1969.12.18 |
| 申请号 |
DE19651514871 |
申请日期 |
1965.09.17 |
| 申请人 |
TELEFUNKEN PATENTVERWERTUNGSGESELLSCHAFT MBH |
发明人 |
ENGBERT,REINER |
| 分类号 |
G01R31/28;H01L23/544;H01L27/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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