发明名称 PROCESS FOR DETECTING TOTALLY OR PARTIALLY HIDDEN NON-HOMOGENEITIES BY MICROWAVE RADIATION
摘要 <p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Detektion ganz oder teilweise verborgener Inhomogenitäten in undurchsichtigen Medien mittels Mikrowellenstrahlung, wobei auf einem Träger mit einer direktionalen Mikrowellen-Sende-Empfangs-Antenne diese so ausgerichtet ist, daß die Achse ihrer Richtcharakteristik die Oberfläche des Mediums in einem Winkel ungleich 90° durchstößt. Weiterhin sind vorteilhafte Anordnungen mit einem oder mehreren Sender- oder Empfängerantennen beschrieben.</p>
申请公布号 WO1995014920(A1) 申请公布日期 1995.06.01
申请号 DE1994001384 申请日期 1994.11.23
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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