发明名称 Anordnung zur Erleichterung des Testens einer logischen Schaltung.
摘要
申请公布号 DE68922341(D1) 申请公布日期 1995.06.01
申请号 DE19896022341 申请日期 1989.06.22
申请人 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA, KAWASAKI, KANAGAWA, JP 发明人 NISHIMURA, AKIRA, YOKOHAMA-SHI KANAGAWA-KEN, JP;NOZUYAMA, YASUYUKI, MEGURO-KU TOKYO, JP
分类号 G06F11/22;G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/267;(IPC1-7):G06F11/26 主分类号 G06F11/22
代理机构 代理人
主权项
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