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发明名称 Serial testing technique for embedded memories.
摘要
申请公布号 EP0385591(B1) 申请公布日期 1995.05.24
申请号 EP19900301270 申请日期 1990.02.07
申请人 NORTHERN TELECOM LIMITED 发明人 NADEAU-DOSTIE, BENOIT;SILBURT, ALLAN LLOYD;AGARWAL, VINOD KUMAR
分类号 G01R31/28;G11C11/401;G11C29/00;G11C29/02;G11C29/16;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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